研讨会精华分享一:仿真测试技术在微电子封装中的应用
11月16日,由深圳市有限元科技有限公司&达索系统Simulia联合主办的“第二届电子产品性能设计提升研讨会”,在深圳深航酒店成功召开。此次“电子产品性能设计提升”主题研讨会,旨在通过会议搭建一个开放的技术交流平台,分享电子产品设计方面的成果与经验,共同探讨电子领域面临的技术难题。以下,将为大家分享会议精华一:仿真测试技术在微电子封装中的应用(中电38所研究员王志海老师报告)。
电子封装是集成电路芯片生产完成后不可缺少的一道工序,是器件到系统的桥梁。封装这一生产环节对微电子产品的质量和竞争力都有极大的影响。封装研究在全球范围的发展是如此迅猛,而它所面临的挑战和机遇也是自电子产品问世以来所从未遇到过的;封装所涉及的问题之多之广,也是其它许多领域中少见的,它是从材料到工艺、从无机到聚合物、从大型生产设备到计算力学等一门综合性非常强的新型高科技学科。那么仿真测试技术在微电子仿真中起到哪些作用呢?
微电子封装目的:
→ 保护芯片(力)
→ 提供功率和信号传输(电)
→ 芯片散热(热)
→ 方便测试和上板
微电子封装技术层次:
→ Level 0(晶圆级):芯片级互连
→ Level 1(芯片级):芯片级封装(Chip Leve Pcakaging)
→ Level 2(组装级):将若干个模块与其他电子元器件组成一个电路(Card)的工艺
→ Level 3(板级):将若干个Card组合在一个主电路板(Board)上,形成一个部件或者子系统的工艺
微电子封装难点与问题:
1、封装热-力-电耦合问题突出
→ 温度影响材料力-电性能、影响器件电性能
→ 温度应力、机械应力导致链接界面失效、影响传输性能
①正常工作→信号传输时温升显著→材料物性、器件性能,结构变形→影响电特性
②外部环境(振动温度)→结构变形→影响电特性
③封装工艺偏差→传输性能降低(损耗增大)、热量增加→温度升高→结构变形、失效→影响电特性
④元器件数量、材料体系复杂、封装界面多→可靠性降低
2、传统封装设计模式“试-错”为主,研发周期长、成本高
→ 缺少正向设计手段,小批量试制+可靠性增长(失效分析+改进)
→ 可靠性增长试验设计缺少量化指导,加速试验设计缺乏理论指导
→ 工艺参数、链接构型、热力性能、失效模式无对应关系,改进预测难
3、封装仿真设计介入有限
→ 材料体系-焊料、导电胶(温度相关、时效相关、非线性) | 缺少准确的热力本构
→ 连接构型-构型表征 | 缺少准确的物理构型
→ 载荷边界-回流焊、键合、振动、冲击、温循、老练 | 缺少准确的载荷边界处理
→ 结果评估-本体、界面(强度、失效、寿命) | 缺少准确的评估方法
→ 设计知识和经验难以共享(传承性差)
→ 借助商用软件、学科分离串行、迭代(效率低)
→ 多尺度建模(要求高)
→ 商用软件二次开发(使用难)
→ 可靠性仿真(评估难)
封装设计流程图:
1、方案阶段:
电性能完整性
热性能完整性
2、详细设计阶段:
结构安全性
3、工艺制造阶段:
典型封装工艺
典型组装工艺
可制造性设计
4、可靠性评估
器件级
板级
5、失效分析与评估
板理分析
设计优化
封装失效机理:
- 本质上就是一场本体耐受力和外部载荷的拔河比赛
封装设计仿真应用案例:
案例1:芯片老练阻值异常
- 导电胶封装工艺导致阻值异常
- 阻值异常导致焦耳热产生异常温升
- 热力不匹配家具阻值异常
案例2:陶瓷引脚失效分析
- 热力不匹配
- 优化引脚构型
- 优化传热方式
案例3:大电容移位封装失效
- 开展附着力试验,提取离散数据统计规律
- 建立匹配试验的仿真模型,建立界面评估准则
- 优化焊接界面构型,定义焊盘评估标准,规范外协质量
案例4:某列线源焊接工艺优化设计
- 焊接降温、空气冷却
- 优化工装
- 优化反变形
- 优化材料体系
案例5:TSV封装仿真DOE试验设计
- 优化工装、反变形、材料体系
封装仿真测试畅想:
一、封装仿真设计如何能仿准?
封装仿真设计有着很大的难度和诸多不确定的因素,而仿真只有在准确性达标的情况下才能大面积推广,以下因素是我们仿真准确与否的重要关注点:
- 准确的材料体系
①弹塑性、蠕变 自测、联盟、资源共享
- 准确的便捷描述
①工艺过程的科学表征 热源分布、温度分布
②科学表征对应工具识别载荷 载荷库+定制模板
- 机电热耦合机理
①提炼机热、机电、热电、机电热耦合关系 机理分析
②规范机热、机电、热电、机电热耦合仿真模板 仿真模板
- 可靠的仿真工具
①嵌入工程知识 知识+定制模板
②嵌入式盐修正 仿真测试相关
- 有效的样机验证
①过程检测与性能评估 系统测试+内部推演
二、工艺能预测吗?
工艺大部分时候都是基于经验去做的,如为什么用某个温度曲线,为什么要用该焊料尺寸形态等,是一种偏经验化的设计。工艺是否能够变得与结构仿真类似一样,通过偏正向设计的方法来完成呢?以下因素是我们实现工艺正向化设计的关键:
- 工艺参数能科学量化表征
①封装工艺分类 焊接、胶结、键合
②封装工艺参数表征 温度曲线、焊接种类、焊接厚度、温湿角、工装形式
- 工艺参数与性能关系能映射
①工艺参数的科学表征 知识经验+科学识别
②性能参数的科学表征 性能表征体系+试验数据
- 已知性能能预测工艺吗?
①既定目标的反演 数据挖掘
②工艺参数的实操 过程控制
③预测与实操的修正 虚实相关
封装技术作为信息产业的重要基础在在产品中发挥着很大的作用,现代电子信息产业的竞争在某种意义上主要就是电子封装业的竞争,它在一定程度上决定着现代工业化的水平。CAE仿真技术在封装中的应用对产品性能、可靠性、寿命、成本等方面的提高有着不容忽视的重要作用。当然,芯片封装的仿真分析应用中还有许多很深入、复杂并极具挑战性的难题,需要多门学科的理论和方法的综合应用。面对这些挑战,元王愿与业内专家共同努力解决难题。