CAE中Micro USB插拔力和寿命疲劳分析
有限元：
2017-11-01 09:42:34
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MicroUSB插拔力和寿命疲劳分析是连接器行业在可靠性设计中所关心的最基本的问题，通过CAE仿真指出连接器公端卡扣和端子的应力与疲劳寿命分析等，为进一步改进结构设计提供了理论依据，为连接器行业在提高可靠性、降低产品的损坏率、压缩成本方面起到了显著的作用。
1、产品问题概述
客户原始包装设计在进行插拔时是否会发生疲劳失效？
有限元科技通过CAE仿真分析发现，MicroUSB在插拔5000次后，插拔力变小，卡扣疲劳寿命偏低，固需要改善。
有限元科技通过CAE仿真技术就如何改善给出了建设性的建议，使得最后产品得到优化，有效保证产品质量。
2、原图模型
3、计算结果
位移插拔力分析
应力分析
疲劳寿命分析
4、结论
MicroUSB公端端子/卡扣的最大等效应力未超出材料的屈服强度，材料安全。插入力为12.90N，拔出力为11.43N。其卡扣的疲劳寿命为13304，偏低，而端子疲劳寿命为10^7次，可以认为它不会疲劳失效。
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